NB/ISO 8422:2009

Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos (Correspondiente a la norma ISO 8422:2006)

Información General

Fecha Publicación: 2009-07-10

  SECTOR 1 NORMAS FUNDAMENTALES

Número de Páginas: 31

CTN: CTN 1.9 Muestreo

ICS: 03.120.30

Palabras Clave: Estadística

Alcance

Especifica los planes y procedimientos de muestreo secuencial para la inspección por atributos de elementos discretos

Seleccione la opción



Seleccione el idioma del documento
  • Precio
    BOB 200

Catálogo de Productos

Busca tu producto

Encuentra las normas, cursos y ofertas exclusivas de tienda

Catálogo de Normas Bolivianas Catálogo de normas ISO Colecciones Cursos

Para normas internacionales buscar en idioma inglés

Eventos y Noticias

Artículos Relacionados

Noticia #1

Sed ut perspiciatis unde omnis iste natus error sit voluptam

  • 9 de abril 2024

Noticia #2

Sed ut perspiciatis unde omnis iste natus error sit voluptam

  • 9 de abril 2024

Noticia #3

Sed ut perspiciatis unde omnis iste natus error sit voluptam

  • 9 de abril 2024

Conéctate con nosotros